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板式測厚儀

板式測厚儀

簡要描述:板式測厚儀型號:TRE-GUB-B
簡 介
于由礦物棉制成的板、帶厚度的測量。
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于由礦物棉制成的板、帶厚度的測量。

產(chǎn)品型號: TRE-GUB-B

所屬分類:專業(yè)儀器

更新時間:2024-09-23

廠商性質(zhì):其他

詳情介紹
品牌同德

板式測厚儀? 型號:TRE-GUB-B

簡      介

TRE-GUB-B型板式測厚儀于由礦物棉制成的板、帶厚度的測量。

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該測厚儀是依據(jù)GB/T 5480.3-2004《礦物棉及其制品試驗方法第3部分:尺寸和密度》特殊設(shè)計制造的大底盤。具有結(jié)構(gòu)簡單、操作方便、測量范圍(面積)大等特點。

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主要技術(shù)參數(shù):

1.百分表量程:0mm~10mm;精度0.01mm

2.壓板直徑:  Φ50mm;

         3.壓板壓強:  98Pa

         4.測量范圍:  0mm~150mm

         5.基準塊規(guī)格:10mm一塊;20mm二塊;50mm三塊。

         6.底盤尺寸: 300mm×240mm

 

產(chǎn)品名稱:中溫法向輻射率測量儀
產(chǎn)品型號:ZFF-2200

中溫法向輻射率測量儀  型號:ZFF-2200

主要配置:發(fā)射體、傳導(dǎo)體、接受體、溫度加熱調(diào)節(jié)裝置、單線數(shù)字溫度傳感器及顯示儀表、低壓大功率開關(guān)電源(3A 24V)保證了設(shè)備的安全操作、所有數(shù)據(jù)由128x64點陣液晶屏同屏顯示,便于觀察每個數(shù)據(jù)的即時變化。配有RS23Z(PC數(shù)據(jù)輸出口)本設(shè)備即可與計算機連接,又可脫機獨立完成實驗。
利用比較法測試固體表面法向輻射時的物體黑度 
外形尺寸:450×250×400mm 
工作電壓:220V 功率:800W

 

產(chǎn)品名稱:礦用隔爆本全型真空電磁起動器/礦用真空電磁起動器
產(chǎn)品型號:QJZ-200/1140

礦用隔爆本全型真空電磁起動器/礦用真空電磁起動器 型號:QJZ-200/1140

一、范圍與用途 
    本系列起動器于煤礦井下其周圍介質(zhì)中有甲烷、煤塵、爆炸性混合物氣體的環(huán)境中、在交流 50HZ 、額定電壓為 660V 或 1140V ,額定電流至 400 的電路中,直接或遠距離控制礦用隔爆型三相鼠籠式異步電動機的起動、停止之用,并可在被控電動機停止時進行換向。  
二、產(chǎn)品特點 
1.主電路采用真空接觸器,無電弧,壽命長,可靠性高。 
2.采用ABD8系列數(shù)字式電機綜合保護器,保護功能全,性能穩(wěn)定。 
3.可單臺使用,也可多臺程控使用。 
4.結(jié)構(gòu)簡單,維修少。

 


 

產(chǎn)品名稱:自熱物質(zhì)試驗儀 75℃熱穩(wěn)定性試驗儀 
產(chǎn)品型號: TS-1

自熱物質(zhì)試驗儀 75℃熱穩(wěn)定性試驗儀 型號:TS-1 

用途  
本儀器可以兼容自熱物質(zhì)試驗和75℃熱穩(wěn)定性試驗。  
自熱物質(zhì)試驗通過將物質(zhì)裝在邊長25mm或100mm立方形鋼絲網(wǎng)容器內(nèi)在溫度100℃、120℃、140℃下暴露于空氣中來確定物質(zhì)是否會氧化自熱。  
75℃熱穩(wěn)定性試驗用于測試物質(zhì)在高溫條件下的熱穩(wěn)定性,以確定物質(zhì)是否太危險不能運輸。  
標準  
自熱物質(zhì)試驗符合《關(guān)于危險貨物運輸?shù)慕ㄗh書•試驗和標準手冊》33.3.1.6試驗N.4自熱物質(zhì)的試驗方法和GB 20584-2006《化學品分類、jing示標簽和jing示性說明安全規(guī)范 自熱物質(zhì)》。  
75℃熱穩(wěn)定性試驗符合《關(guān)于危險貨物運輸?shù)慕ㄗh書試驗和標準手冊》13.6.1試驗3(c):75℃熱穩(wěn)定性試驗和EN 13631-2:2002《民用.烈性藥.第2部分:測定的熱穩(wěn)定性》。  
技術(shù)參數(shù)  
1.兼容自熱物質(zhì)試驗和75℃熱穩(wěn)定性試驗  
2.控溫范圍:室溫+5℃~250℃  
3.測溫范圍:-40℃~400℃  
4.控溫精度:≤±1℃  
5.均溫性:≤±0.5℃(九點法)  
6.波動度:≤±0.5℃  
7.烘箱容積:≥10L  
8.加熱方式:碳纖維紅外熱輻射加熱管  
9.送風方式:垂直循環(huán)送風  
10.計時范圍:0~72h  
11.計時精度:±0.01s  
12.自熱物質(zhì)試驗網(wǎng)籠尺寸:邊長25mm,邊長100mm  
13.75℃熱穩(wěn)定性試驗試驗容器:直徑50.5±0.5mm,長150mm  
14.10英寸工業(yè)平板電腦,配電容式觸摸屏  
15.操作系統(tǒng):windows7專業(yè)版  
功能特點  
1.采用PID調(diào)溫器控制碳纖維紅外熱輻射加熱管進行加熱,風機攪拌,確保溫度的均勻性和穩(wěn)定性;  
2.多重防護措施,前門采用機電互鎖結(jié)構(gòu),背部安裝被動泄;  
3.儀器整體不銹鋼制造,避免靜電隱患;  
4.自動記錄原始數(shù)據(jù),繪制時間-溫度曲線,自動判斷試驗結(jié)果,并進行包裝類別判斷;  
5.用戶可根據(jù)需求調(diào)整試驗順序,配置相應(yīng)參數(shù)進行試驗;  
6.設(shè)備具有自檢和報警功能,試驗完成自動聲光提醒;  
7.試驗過程全自動化,支持參數(shù)設(shè)置、數(shù)據(jù)存儲、查看報表等功能;  
8.底部配備有剎車功能的平板腳輪,便于搬運;  
9.采用10英寸工業(yè)平板電腦,配電容式觸摸屏、Windows7專業(yè)版操作系統(tǒng),實時顯示試驗數(shù)據(jù);  
10.支持網(wǎng)絡(luò)連接,實現(xiàn)遠程操控和數(shù)據(jù)傳輸。  

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產(chǎn)品名稱:數(shù)字式太陽能級硅晶體少子壽命測試儀 晶體少子壽命測試儀
產(chǎn)品型號:LT-200

數(shù)字式太陽能級硅晶體少子壽命測試儀 晶體少子壽命測試儀型號:LT-200

LT-200數(shù)字式太陽能級硅晶體少子壽命測試儀簡介 
1. 儀器應(yīng)用范圍及說明 
本設(shè)備是按照標準GB/T1553“硅單晶少數(shù)載流子壽命測定的高頻光電導(dǎo)衰減法”設(shè)計制造。高頻光電導(dǎo)衰減法在我國半導(dǎo)體集成電路、晶體管、整流器件、核探器行業(yè)已運用了三十多年,積累了豐富的使用經(jīng)驗,經(jīng)過數(shù)次全國十多個單位巡回測試的考驗,證明是一種成熟可靠的測試方法,特別適合于硅塊、硅棒的少子體壽命測量;也可對硅片進行測量,給出相對壽命值。方法本身對樣品表面的要求為研磨面,因此制樣特別簡便。 
昆德公司數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀有以下特點: 
可測量太陽能級多晶硅塊、單晶硅棒少數(shù)載流子體壽命。表面無需拋光,直接對切割面或研磨面進行測量,儀器可按需方提供的有標稱值的校準樣品調(diào)試壽命值。 
1.1 可測量太陽能級單晶及多晶硅片少數(shù)載流子的相對壽命,表面無需拋光、鈍化。 
1.2 液晶屏上直接顯示少子壽命值,同時在線顯示光電導(dǎo)衰退波形。 
1.3 配置的紅外光源:0.904~0.905μm波長紅外脈沖激光器,光穿透硅晶體深度較淺≈30μm,但光強較強,有利于測量低阻太陽能級硅晶體少數(shù)載流子體壽命,脈沖功率30W。 
1.4 專門為消除陷進效應(yīng)增加了紅外低光照。 
1.5 測量范圍寬廣 
測試儀可直接測量: 
a、研磨或切割面:電阻率≥0.5Ω•cm的單晶硅棒、定向結(jié)晶多晶硅塊少子體壽命,切割片的少子相對壽命。 
b、拋光面:電阻率在0.5~0.01Ω•cm范圍內(nèi)的硅單晶、鍺單晶厚度小于1mm的拋光片。 
2. 設(shè)備技術(shù)要求及性能指標 
2.1 少子壽命測試范圍:0.5μs~6000μs              
2.2 樣品的電阻率范圍:ρ﹥0.1Ω·cm(非回爐料)               
2.3 測試速度:1分鐘/片                       
2.4 紅外光源波長: 0.904~0.905μm                    
2.5 高頻振蕩源:用石英諧振器,振蕩頻率:30MHZ 
2.6 前置放大器,放大倍數(shù)約25,頻寬2HZ-2MHZ 
2.7 可測單晶尺寸:斷面豎測: 
直徑25mm-150mm;厚度2mm-500mm 
縱向臥測:直徑5mm-20mm;長度50mm-200mm 
2.8 測量方式:采用數(shù)字示波器直接讀數(shù)方式 
2.9 測試分辨率:數(shù)字存儲示波器小分辨率0.01μs  
2.10 設(shè)備重量:20 Kg  
2.11 儀器電源:電源電壓類型:單相210~230V,50Hz,帶電源隔離、濾波、穩(wěn)壓,不能與未做保護措施的大功率、高頻設(shè)備共用電源。

 



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