兩探針電阻率測試儀/二探針電阻率測試儀/兩探針儀 (測鍺) 型號:LZ-KDY-2
LZ-KDY-2型兩探針電阻率測試儀(以下簡稱兩探針儀)是按照我國標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協(xié)會(ASTM)的材料驗收檢測方法“兩探針法”設計。它適合于測量橫截面面積均勻的圓型,方型或矩形單晶錠(如硅芯、檢磷、硼棒、區(qū)熔鍺錠等)的電阻率,測樣長度與截面zui大尺寸之比應不小于3:1。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端進出,遠離電壓測量探針,因此電流流過金屬與半導體接觸處產生的許多副效應(如珀爾帖效應、塞貝克效應、少子注入效應等),對測量的影響較小,測量結果為橫截面的平均電阻率,兩探針法的測量精度一般優(yōu)于四探針法。
整套儀器有如下特點
1、配有雙數字表:一塊數字表在測量顯示電壓的同時,另一塊數字表(以萬分之幾的精度)適時監(jiān)測全過程中的電流變化,使操作更方便,測量更。
數字電壓表量程:0—199.99mV 靈敏度:10μV 輸入阻抗:1000ΜΩ
基本誤差±(0.04-0.05%讀數+0.01%滿度)
2、可測電阻率范圍:0.005—50000Ω·cm。
3、測量電流由高度穩(wěn)定(萬分之幾精度)的特制恒流源提供,不受氣候條件的影響。
電流量程分五檔:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。調節(jié)范圍從0.001~100mA
4、儀器采用觸點電阻更低(<5mΩ)、使用壽命更長的轉換開頭及繼電器(>10萬次),在緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數,提高了測試儀的可靠性和使用壽命。
5、可加配HQ-710E微處理機及打印機,實現(xiàn)自動換向測量、求平均值,計算并打印電阻率zui大值、zui小值、zui大百分變化率、平均百分變化率等內容。
6、可加配電腦,實現(xiàn)數據采集、自動換向測量、求平均值,計算、存儲并打印電阻率zui大值、zui小值、zui大百分變化率、平均百分變化率等內容